| 发明名称 | 使用磁阻传感器对样品进行信号检测的系统及其检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种使用磁阻传感器的测量系统，包括：磁阻传感器，所述磁阻传感器被配置为感测与磁粒子结合的靶的磁组分；以及外加磁场供应单元，所述外加磁场供应单元被配置为向所述磁阻传感器提供第一方向和第二方向的外加磁场，其中，所述外加磁场供应单元包括被配置为通过循环所述第二方向的外加磁场来补偿磁场损失的磁场补偿单元。 | ||
| 申请公布号 | CN102428381A | 申请公布日期 | 2012.04.25 |
| 申请号 | CN201080021678.8 | 申请日期 | 2010.03.17 |
| 申请人 | LG伊诺特有限公司 | 发明人 | 金廷律;李忠完;崔万休;梁智惠;姜文淑;金英默 |
| 分类号 | G01R33/09(2006.01)I;G01R33/07(2006.01)I | 主分类号 | G01R33/09(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人 | 许向彤;林锦辉 |
| 主权项 | 一种使用磁阻传感器的测量系统，包括：磁阻传感器，所述磁阻传感器被配置为感测与磁粒子结合的靶的磁组分；以及外加磁场供应单元，所述外加磁场供应单元被配置为向所述磁阻传感器提供第一方向和第二方向的外加磁场，其中，所述外加磁场供应单元包括被配置为通过循环所述第二方向的外加磁场来补偿磁场损失的磁场补偿单元。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||