一种表面薄膜残余应力的预测方法

摘要

本发明公开了一种表面薄膜残余应力的预测方法，它包括以下步骤：A、采用四点弯曲实验，得到薄膜内部裂纹密度随弯曲应变值变化的关系曲线；B、基于四点弯曲载荷作用下薄膜结构内部的应力传递条件，建立薄膜内部裂纹密度与弯曲应变值关系的理论预测模型；C、根据所述步骤B中的理论预测模型，建立在不同的残余应力值下的薄膜内部裂纹密度与弯曲应变值的理论关系曲线；D、选择所述步骤C中与所述步骤A中的关系曲线吻合程度最好的理论关系曲线，则该理论关系曲线对应的残余应力值即为预测的表面薄膜残余应力。本发明的方法不仅操作简单，而且能够精确预测薄膜的残余应力，且不受薄膜材料的限制，尤其在薄膜厚度较小时具有明显优势。

主权项

一种表面薄膜残余应力的预测方法，其特征在于，所述预测方法包括以下步骤：步骤A、采用四点弯曲实验，沿拉应力方向放置薄膜，观测得到薄膜内部裂纹密度随弯曲应变值变化的关系曲线；步骤B、基于四点弯曲载荷作用下薄膜结构内部的应力传递条件，建立薄膜内部裂纹密度与弯曲应变值关系的理论预测模型；步骤C、根据所述步骤B中的理论预测模型，建立在不同的残余应力值下的薄膜内部裂纹密度与弯曲应变值的理论关系曲线；步骤D、将所述步骤C中得到的薄膜内部裂纹密度与弯曲应变值的理论关系曲线与所述步骤A中实际测得的薄膜内部裂纹密度随弯曲应变值变化的关系曲线进行比较，选择所述步骤C中与所述步骤A中的关系曲线吻合程度最好的理论关系曲线，则该理论关系曲线对应的残余应力值即为预测的表面薄膜残余应力。