| 发明名称 | 用于检测键盘上键帽高低的检测治具 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具，包括用于放置键盘的底板、用于检测键帽是否高于键帽高度标准范围上限值的上限滑杆和检测键帽是否低于键帽高度标准范围下限值的下限滑杆，所述上限滑杆和下限滑杆分别滑动连接在底板上，所述上限滑杆与底板之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽通过的间隙，所述下限滑杆与底板之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽通过的间隙。本实用新型提供了一种用于检测键盘上键帽高低的，且能有效检验键帽高低所带来的外观质量问题的检测治具，其规范化，实用性强，且易于操作。 | ||
| 申请公布号 | CN202204432U | 申请公布日期 | 2012.04.25 |
| 申请号 | CN201120324968.1 | 申请日期 | 2011.09.01 |
| 申请人 | 群光电子（苏州）有限公司 | 发明人 | 刘强;邱建兴;刘庆江 |
| 分类号 | G01B5/02(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人 | 金辉 |
| 主权项 | 一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于：包括用于放置键盘(5)的底板(1)、用于检测键帽(51)是否高于键帽高度标准范围上限值的上限滑杆(2)和检测键帽(51)是否低于键帽高度标准范围下限值的下限滑杆(3)，所述上限滑杆(2)和下限滑杆(3)分别滑动连接在底板(1)上，所述上限滑杆(2)与底板(1)之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽(51)通过的间隙，所述下限滑杆(3)与底板(1)之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽(51)通过的间隙。 | ||
| 地址 | 215200 江苏省苏州市吴江市九龙路1058路 | ||