一种EBSD测试用基带斜截面的制备方法及分析方法

摘要

一种EBSD测试用基带斜截面的制备方法及分析方法，属于高温超导涂层导体的基带领域。其步骤包括：(1)将制备好的冷轧基带剪切成合适的大小，进行机械抛光处理成斜截面；(2)将抛光好的基带进行清洗；(3)将清洗好的冷轧基带进行再结晶退火处理；(4)采用EBSD技术分析样品表面的晶粒取向；(5)对测试结果进行统计分析。该方法操作简单，可缩短样品制备过程，节约测试时间，同时获得所需要的全部测试信息。

主权项

一种EBSD测试用基带斜截面的制备方法及分析方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将平均厚度为60～100um的冷轧合金基带按照测试需要进行剪切，然后进行机械抛光处理成斜截面，其关键在于冷轧基带需用胶水固定在具有坡度的磨具上，以便进行抛光，在进行抛光过程中，对合金基带均匀施压，从而获得具有斜截面的合金基带，其中一部分区域抛光严重，将基带表层30um～50um的表层除去，达到基带的芯层位置，使该区域的再结晶织构形成不受外层形变织构的影响，另一部分区域抛光较浅，即保留了部分的基带表层；2)把抛光好的基带进行清洗：把抛光好的基带放入到丙酮溶液中进行去污清洗，然后放入到无水乙醇溶液中进行二次清洗，最后在蒸馏水中进行超声去离子清洗，烘干保存；3)在Ar/H2混合气体保护下，将清洗好的冷轧基带进行常规的再结晶退火处理，得到双轴立方织构金属基带；采用EBSD技术分析斜截面样品表面的晶粒取向；4)对上述测试结果进行分析，可分析表面形变织构对再结晶织构演变的影响。