| 发明名称 | 诊断电路及其方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及诊断电路及其方法，其中具体公开了一种用于测试晶体管的诊断电路，包括：正向偏置检测电路，可操作地耦连，以确定晶体管的正向偏置状态；以及第一电路，可操作地耦连，以形成代表晶体管的漏极-源极电压的第一信号，以形成代表晶体管的漏极电流的第二信号，以及响应地指示晶体管的导通电阻小于第一值。在一个实施例中，使用诊断电路测试晶体管的导通电阻。 | ||
| 申请公布号 | CN1967273B | 申请公布日期 | 2012.04.25 |
| 申请号 | CN200610142985.7 | 申请日期 | 2006.10.26 |
| 申请人 | 半导体元件工业有限责任公司 | 发明人 | 阿兰·R·巴尔 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;G01R27/04(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 党建华 |
| 主权项 | 一种用于测试晶体管的诊断电路，包括：正向偏置检测电路，可操作地耦连以确定晶体管的正向偏置状态；以及第一电路，可操作地耦连以：形成代表晶体管的漏极‑源极电压的第一信号，形成代表晶体管的漏极电流的第二信号，以及响应地指示晶体管的导通电阻小于第一值。 | ||
| 地址 | 美国亚利桑那 | ||