发明名称 Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen mit einem Glassubstrat
摘要 Es wird ein Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen offenbart. Es wird ein Halbleiterwafer (10) mit einer ersten Oberfläche (11) und einer zweiten Oberfläche (12) gegenüber der ersten Oberfläche (11) bereitgestellt. Es wird ein erstes Glassubstrat (20) bereitgestellt, das Hohlräume (21) und/oder Öffnungen an einer Bondoberfläche (22) aufweist. Das erste Glassubstrat (20) wird derart an die erste Oberfläche (11) des Halbleiterwafer (10) gebondet, dass die Metallpads (14, 15) innerhalb jeweiliger Hohlräume (21) oder Öffnungen des ersten Glassubstrats (20) angeordnet werden. Die zweite Oberfläche (12) des Halbleiterwafer (10) wird maschinell bearbeitet. Mindestens ein Metallisierungsgebiet (17, 18, 19) wird auf der maschinell bearbeiteten zweiten Oberfläche (12) des Halbleiterwafer (10) ausgebildet.
申请公布号 DE102011051823(A1) 申请公布日期 2012.04.19
申请号 DE20111051823 申请日期 2011.07.13
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 LACKNER, GERALD;OTTOWITZ, MARKUS;SCHRETTLINGER, KARIN;VON KOBLINSKI, CARSTEN
分类号 H01L21/673;H01L21/768;H01L21/78 主分类号 H01L21/673
代理机构 代理人
主权项
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