发明名称 |
Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen mit einem Glassubstrat |
摘要 |
Es wird ein Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen offenbart. Es wird ein Halbleiterwafer (10) mit einer ersten Oberfläche (11) und einer zweiten Oberfläche (12) gegenüber der ersten Oberfläche (11) bereitgestellt. Es wird ein erstes Glassubstrat (20) bereitgestellt, das Hohlräume (21) und/oder Öffnungen an einer Bondoberfläche (22) aufweist. Das erste Glassubstrat (20) wird derart an die erste Oberfläche (11) des Halbleiterwafer (10) gebondet, dass die Metallpads (14, 15) innerhalb jeweiliger Hohlräume (21) oder Öffnungen des ersten Glassubstrats (20) angeordnet werden. Die zweite Oberfläche (12) des Halbleiterwafer (10) wird maschinell bearbeitet. Mindestens ein Metallisierungsgebiet (17, 18, 19) wird auf der maschinell bearbeiteten zweiten Oberfläche (12) des Halbleiterwafer (10) ausgebildet. |
申请公布号 |
DE102011051823(A1) |
申请公布日期 |
2012.04.19 |
申请号 |
DE20111051823 |
申请日期 |
2011.07.13 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG |
发明人 |
LACKNER, GERALD;OTTOWITZ, MARKUS;SCHRETTLINGER, KARIN;VON KOBLINSKI, CARSTEN |
分类号 |
H01L21/673;H01L21/768;H01L21/78 |
主分类号 |
H01L21/673 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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