发明名称 一种提高电容密度的结构及方法
摘要 本发明一般涉及半导体集成电路制造领域,更确切的说,本发明涉及一种提高电容密度的结构及方法。本发明提高电容密度的结构及其制造方法,在传统工艺的金属-绝缘层-金属(MIM)结构的电容基础上,通过继续增加绝缘层和金属层以增加电容密度,即采用电容的叠加,以形成并联的两个电容,从而大大增加了电容密度。
申请公布号 CN102420209A 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN201110163845.9 申请日期 2011.06.17
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 徐强;张文广;郑春生
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L29/92(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种提高电容密度的结构,其特征在于,包括:一衬底,所述衬底上设置有衬底金属铜和下绝缘层;一下金属层设置在所述下绝缘层上,一中绝缘层设置在所述下金属层上,一中金属层设置在所述中绝缘层上,一上绝缘层设置在所述中金属层上,一上金属层设置在所述上绝缘层上;基底端子、第一端子、第二端子和第三端子分别通过互连线依次与基底金属铜、所述下金属层、所述中金属层和所述上金属层连接,基底端子和第三端子连接,第一端子和第二端子连接,形成并联电容。
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号