发明名称 形状记忆装置
摘要 具有双稳态位置的纳米机械装置,用于形成开关和存储器装置。所述装置可驱动至不同的位置,可连接到不同配置中的晶体管装置,以提供存储器装置。驱动机制包括静电方法和加热。在一个形式中,所述机械装置形成场效应晶体管的栅极,参见图2A。在另一形式中,所述装置可以是开关,开关可以不同的方式连接晶体管,当导通和断开时影响其电子特性。在一个实施例中,所述存储器开关包括用可拉长的或可压缩的膜形成,参见图5B。交叉点开关由多个交叉的导电的导体的列和行形成,参见图11A。可驱动开关位于列和行的各个交叉点之间,使得各个交叉点可单独地访问。基于侧壁的开关可连接晶体管的浮栅(823),参见图8B。
申请公布号 CN101273456B 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN200680035573.1 申请日期 2006.09.27
申请人 康奈尔研究基金公司;三星电子株式会社 发明人 桑迪普·蒂瓦里;金桢雨
分类号 H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8246(2006.01)I;H01L41/00(2006.01)I;B81B3/00(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I;G11C13/02(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L27/06(2006.01)I;G11C11/00(2006.01)I;H01L29/788(2006.01)I;H01L27/10(2006.01)I;G11C23/00(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I;H01L51/00(2006.01)I 主分类号 H01L27/115(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 刘光明;穆德骏
主权项 一种存储器装置,包括:晶体管,具有栅极、漏极和源极;以及双稳态纳米尺度结构,连接至所述晶体管,其中所述双稳态纳米尺度结构具有两个稳态位置,这两个稳态位置使所述晶体管具有不同的阈值电压,以便对所述晶体管的导电性具有不同的影响。
地址 美国纽约