发明名称 一种激光测距综合实验仪
摘要 本实用新型属于激光测距领域,公开了一种激光测距综合实验仪,包括半导体激光器,偏振分束器、电光调制装置、平面镜、光功率计、双踪示波器、主控单元和光电倍增管;沿所述半导体激光器输出的激光的方向依次设置第一偏振分束器、电光调制装置、第二偏振分束器和平面镜;所述光功率计相对第二偏振分束器的侧面设置;所述光电倍增管相对第一偏振分束器的侧面设置;所述半导体激光器、电光调制装置和光功率计与主控单元连接;所述示波器与光电倍增管连接。本实用新型的主要部件安装于实验箱内,实现了仪器的小型化和便携化。本实用新型改善了激光仪器的可调节性,可以观察电光偏转现象和电光调制通信现象。
申请公布号 CN202196172U 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN201120248537.1 申请日期 2011.07.14
申请人 华东师范大学 发明人 柴志方;戚小华;崔璐;宦强
分类号 G01S17/36(2006.01)I;G09B23/22(2006.01)I 主分类号 G01S17/36(2006.01)I
代理机构 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 代理人 董红曼
主权项 一种激光测距综合实验仪,其特征在于,包括半导体激光器(1),偏振分束器(2、5)、电光调制装置、平面镜(6)、光功率计(7)、双踪示波器(8)、主控单元(9)和光电倍增管(10);其中,沿所述半导体激光器(1)输出的激光的方向依次设置第一偏振分束器(2)、电光调制装置、第二偏振分束器(5)、平面镜(6);所述光功率计(7)相对第二偏振分束器(5)的侧面设置;所述光电倍增管(10)相对第一偏振分束器(2)的侧面设置;所述半导体激光器(1)、电光调制装置和光功率计(7)分别与所述主控单元(9)连接;所述双踪示波器(8)与光电倍增管(10)连接。
地址 200062 上海市普陀区中山北路3663号