发明名称 锁相环的锁定探测器及其探测方法
摘要 本发明揭示了一种锁相环的锁定探测器及其探测方法,所述锁定探测器包括异或门、与门、充电电阻、充电电容、第一触发器;异或门接收UP、DN信号,其输出端通过充电电阻R、充电电容C连接至第一触发器的输入端;与门接收UP、DN信号,并根据UP、DN信号产生一时钟上升沿驱动第一触发器采样充电电容C上的电平,以此判断Fref和Fdiv之间的相位差是否足够小;从而判断PLL处于失锁状态或锁定状态。本发明提出的锁相环的锁定探测器及其探测方法,通过在多个地方引入可编程技术,并合理的划分锁定探测器的功能结构,最终实现锁定探测电路应用上的巨大灵活性和可移植性。
申请公布号 CN101640536B 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN200910194848.1 申请日期 2009.08.31
申请人 豪威国际控股有限公司 发明人 衣晓峰
分类号 H03L7/089(2006.01)I;H03L7/10(2006.01)I 主分类号 H03L7/089(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 张欣
主权项 1.一种锁相环的锁定探测器,其特征在于:所述锁相环PLL包括鉴频鉴相器PFD、电荷泵CP、低通滤波器LPF、压控振荡器VCO、分频器Divider;鉴频鉴相器PFD通过比较参考时钟Fin与VCO经分频后产生的反馈时钟Fdiv的相位差产生输出控制信号UP、控制信号DN去控制电荷泵CP上/下电流源的开关;使UP、DN信号在Fref和Fdiv之间没有相位差时仍同时保持逻辑“1”一设定时间;所述锁定探测器包括异或门、与门、充电电阻、充电电容、第一触发器;所述异或门采集控制信号UP、控制信号DN中的一个信号为逻辑“1”时的维持时间;当UP或DN其中一个信号为高电平、另一个为低电平时,异或门输出高电平,从而驱动其后面的充电电阻R对充电电容C进行充电;这一充电过程将一直维持到当UP和DN信号同时为逻辑“1”时为止;与门产生一时钟上升沿驱动第一触发器采样充电电容C上的电平以判断Fref和Fdiv之间的相位差是否足够小;若第一触发器进行采样时,充电电容C上极板的电平若高于第一触发器的门阈值电压,则Fref与Fdiv之间的相位差较大,判断PLL处于失锁状态;若第一触发器进行采样时,充电电容C上极板的电平若低于第一触发器的门阈值电压,则Fref与Fdiv之间的相位差较小,判断PLL处于锁定状态;其中,通过设定不同的时间常数R×C来定义认定PLL锁定时Fref与Fdiv之间相位差的阈值;R×C越大判定PLL锁定时允许的Fref与Fdiv之间相位差就越大;R×C越小判定PLL锁定时允许的Fref与Fdiv之间相位差就越小;上述锁定过程的判定条件用下面的公式表示:<img file="FSB00000693426300011.GIF" wi="574" he="163" />其中,Vdd为电源电压,R、C分别为锁定检测电路中的R、C取值,t<sub>window</sub>为判定PLL处于锁定状态的相位差的阈值窗口,这里用Fref与Fdiv之间的延时来表示相位差,V<sub>th_DFF</sub>为DFF的门阈值电压。 
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