发明名称 |
废气处理装置及废气处理方法 |
摘要 |
处理从半导体制造装置20排出的混合气体的废气处理装置10具备:使混合气体通过,吸附混合气体所含的多种气体中主要需要除害的单硅烷气体,由此分离单硅烷气体和无需除害的氢气的吸附分离部40;使吸附于吸附分离部40的单硅烷脱离的加热机构;对从吸附分离部40脱离的单硅烷气体进行除害的硅烷气体除害部50;将通过吸附分离部40从混合气体中分离的氢气排出的氢气排气部60。 |
申请公布号 |
CN102421509A |
申请公布日期 |
2012.04.18 |
申请号 |
CN201080020827.9 |
申请日期 |
2010.03.11 |
申请人 |
吉坤日矿日石能源株式会社 |
发明人 |
佐村健;大内太;朝野刚;冈部隆志 |
分类号 |
B01D53/46(2006.01)I;C01B3/56(2006.01)I;C01B33/04(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I |
主分类号 |
B01D53/46(2006.01)I |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
代理人 |
经志强 |
主权项 |
一种废气处理装置,所述废气处理装置处理从半导体制造装置排出的混合气体,其特征在于,具备:吸附分离部,使所述混合气体通过,吸附所述混合气体中包含的多种气体中主要需要除害的第1气体,由此分离该第1气体和无需除害的第2气体,脱离机构,使吸附于所述吸附分离部的所述第1气体脱离,第1气体处理部,处理从所述吸附分离部脱离的所述第1气体,第2气体处理部,处理通过所述吸附分离部而从混合气体中分离的所述第2气体。 |
地址 |
日本东京 |