发明名称 用于测量材料厚度的装置和方法
摘要 用于测量检测物体的材料厚度的装置和系统。在一个实施例中,该装置可以包括测量探头,其可以具有多个换能器元件,这些换能器元件可以包括分别设置在间隙中的第一侧和第二侧上的传送器元件和接收器元件。该第一侧和该第二侧可以形成具有至少一个有源组合的扫描区,该有源组合可以具有至少一个传送器元件和至少一个接收器元件,该接收器元件可以与处于间隔关系的该传送器元件分开。
申请公布号 CN102422123A 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN201080020122.7 申请日期 2010.04.06
申请人 通用电气公司 发明人 P·迈尔;J·安德森;A·德赛;W·罗
分类号 G01B17/02(2006.01)I;B06B1/00(2006.01)I;G01N29/22(2006.01)I 主分类号 G01B17/02(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 张金金;朱海煜
主权项 一种用于测量检测物体厚度的测量探头,所述测量探头包括:延迟块,其包括具有纵轴线的本体,所述本体包括靠近所述检测物体放置的扫描表面和与所述扫描表面相对的支撑表面;采用形成有源组合的方式声耦合于所述支撑表面的多个换能器元件,所述有源组合包括用于产生超声束的传送器侧和用于接收回声信号的接收器侧,所述接收器侧与所述传送器侧是间隔关系,所述间隔关系形成沿着所述纵轴线延伸的间隙;采用使所述有源组合的所述传送器侧与所述接收器侧在声学上分开的方式设置在所述间隙中的串扰屏障,其中所述接收器侧包括响应于所述回声信号的至少一个换能器元件,所述回声信号对应于从所述传送器侧上的至少一个换能器元件引导进入所述检测物体的超声束。
地址 美国纽约州