发明名称 |
记录介质、数据记录/再现方法和数据记录/再现装置 |
摘要 |
公开了一种记录介质、一种数据记录/再现方法和一种数据记录/再现装置。一种记录介质,包括:在其中记录用户数据的数据区;位于该数据区的内部圆周处的内部区;以及位于该数据区的外部圆周处的外部区,其中该数据区包括至少一个备用区域,并且该内部区和该外部区中的至少一个包括至少一个磁盘管理区域,该磁盘管理区域包括:记录介质的缺陷管理信息;包括该缺陷管理信息的信息的通用管理信息;以及能够被用作有缺陷的替换簇的该备用区域的地址信息,该通用管理信息包括其中记录了缺陷管理信息的磁盘管理区域的每簇的地址信息。根据本发明的记录介质、数据记录/再现方法和数据记录/再现装置,能够更有效地管理在该记录介质中出现的缺陷。 |
申请公布号 |
CN102422353A |
申请公布日期 |
2012.04.18 |
申请号 |
CN201080020752.4 |
申请日期 |
2010.05.03 |
申请人 |
LG电子株式会社 |
发明人 |
朴容徹;权赫镇;金城埙 |
分类号 |
G11B7/007(2006.01)I;G11B20/12(2006.01)I;G11B20/18(2006.01)I;G11B20/10(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/007(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
夏凯;谢丽娜 |
主权项 |
记录介质,包括:在其中记录用户数据的数据区;位于所述数据区的内部圆周处的内部区;以及位于所述数据区的外部圆周处的外部区,其中所述数据区包括至少一个备用区域,并且所述内部区和所述外部区中的至少一个包括至少一个磁盘管理区域,所述磁盘管理区域包括:所述记录介质的缺陷管理信息;通用管理信息,所述通用管理信息包括所述缺陷管理信息的信息;以及所述备用区域的地址信息,所述地址信息能够被用作有缺陷的替换簇,所述通用管理信息包括其中记录了所述缺陷管理信息的所述磁盘管理区域的每簇的地址信息。 |
地址 |
韩国首尔 |