集成电路的标识

摘要

一般地描述了针对集成电路(IC)产生标识号的技术。在一些示例中，用于产生IC的标识的方法可以包括：选择IC的电路元件；估计针对所选电路元件的IC的属性的测量，其中各个测量与先前应用于IC的相应输入矢量相关联；对至少部分地基于针对所选电路元件的IC的属性所获取的测量而形成的多个等式进行求解，以确定所选电路元件的比例因子；以及对针对所选电路元件的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。还公开了其它变体和实施例。

主权项

一种使计算设备产生包括电路元件的集成电路IC的标识号的方法，所述方法包括：选择IC的电路元件；针对所选电路元件估计IC属性的测量结果，其中各个测量结果与先前应用于IC的对应输入矢量相关联；对至少部分地基于针对所选电路元件所获取的IC属性的测量结果而形成的多个等式进行求解，以确定针对所选电路元件的比例因子；以及对针对所选电路元件而确定的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。