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发明名称 Verfahren zur Eichung mindestens einer Messvorrichtung, bei der ein zu prüfender Gegenstand von einer Strahlungsquelle betriebsmässig durchstrahlt wird, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
摘要
申请公布号 CH499786(A) 申请公布日期 1970.11.30
申请号 CH19680015012 申请日期 1968.10.08
申请人 INDUSTRIAL NUCLEONICS CORPORATION 发明人 IREY DOERING,GEORGE
分类号 G01G9/00;G01N23/16;G01T1/185;(IPC1-7):G01T1/17;G01T7/00 主分类号 G01G9/00
代理机构 代理人
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