发明名称 |
Höhere Integrität eines Gatestapels mit großemεdurch Erzeugen einer gesteuerten Unterhöhlung auf der Grundlage einer Nasschemie |
摘要 |
In komplexen Halbleiterbauelementen wird die Einkapselung empfindlicher Gatematerialien, etwa eines dielektrischen Materials mit großem &egr; und eines metallenthaltenden Elektrodenmaterials, die in einer frühen Fertigungsphase bereitgestellt werden, bewerkstelligt, indem eine Gatekonfiguration mit Unterhöhlung erzeugt wird. Dazu wird eine nasschemische Ätzsequenz nach dem grundlegenden Strukturieren des Gateschichtstapels angewendet, wobei zumindest Prozessschritte auf Ozonbasis und Flusssäurebasis in abwechselnder Weise ausgeführt werden, wodurch ein im Wesentlichen selbstbegrenzendes Abtragungsverhalten erreicht wird.
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申请公布号 |
DE102010042229(A1) |
申请公布日期 |
2012.04.12 |
申请号 |
DE20101042229 |
申请日期 |
2010.10.08 |
申请人 |
GLOBALFOUNDRIES DRESDEN MODULE ONE LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG;GLOBALFOUNDRIES INC. |
发明人 |
BEYER, SVEN;REIMER, BERTHOLD;GRAETSCH, FALK |
分类号 |
H01L21/283;H01L29/423 |
主分类号 |
H01L21/283 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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