发明名称 Höhere Integrität eines Gatestapels mit großemεdurch Erzeugen einer gesteuerten Unterhöhlung auf der Grundlage einer Nasschemie
摘要 In komplexen Halbleiterbauelementen wird die Einkapselung empfindlicher Gatematerialien, etwa eines dielektrischen Materials mit großem &egr; und eines metallenthaltenden Elektrodenmaterials, die in einer frühen Fertigungsphase bereitgestellt werden, bewerkstelligt, indem eine Gatekonfiguration mit Unterhöhlung erzeugt wird. Dazu wird eine nasschemische Ätzsequenz nach dem grundlegenden Strukturieren des Gateschichtstapels angewendet, wobei zumindest Prozessschritte auf Ozonbasis und Flusssäurebasis in abwechselnder Weise ausgeführt werden, wodurch ein im Wesentlichen selbstbegrenzendes Abtragungsverhalten erreicht wird.
申请公布号 DE102010042229(A1) 申请公布日期 2012.04.12
申请号 DE20101042229 申请日期 2010.10.08
申请人 GLOBALFOUNDRIES DRESDEN MODULE ONE LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG;GLOBALFOUNDRIES INC. 发明人 BEYER, SVEN;REIMER, BERTHOLD;GRAETSCH, FALK
分类号 H01L21/283;H01L29/423 主分类号 H01L21/283
代理机构 代理人
主权项
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