发明名称 一种垂直结构纳米线隧穿场效应晶体管及其的制备方法
摘要 本发明属于半导体器件技术领域,具体涉及一种垂直结构的纳米线隧穿场效应晶体管的制备方法。在水浴环境下生长所需的ZnO纳米线,不需要高温高压环境,溶液配置简单,生长方便,价格低廉,并且直接将纳米线构成垂直结构的MOS器件,可以避免后期的纳米线处理。本发明结构简单,制造方便,成本较低,而且利用网格可以使生长的纳米线沟道与以此制造的垂直结构的MOSFET阵列排布可控,便于直接完成大规模MOSFET阵列的制造。
申请公布号 CN102412301A 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN201110309367.8 申请日期 2011.10.13
申请人 复旦大学 发明人 包微宁;曹成伟;王鹏飞;张卫
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/43(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人 陆飞;盛志范
主权项 一种垂直结构纳米线隧穿场效应晶体管,其特征在于,包括:一个p型重掺杂的半导体衬底;位于所述衬底之上形成的籽晶层;位于所述籽晶层之上形成的垂直结构的纳米线;位于所述纳米线沟道四周并覆盖所述籽晶层形成的栅介质层;覆盖所述栅介质层形成的重掺杂多晶硅栅极;所述的纳米线顶端作为器件的漏极,并与金属接触作为金属电极引出;以所述重掺杂的半导体衬底作为源极。
地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号