发明名称 一种数控装备性能可靠性评估方法
摘要 本发明提供了一种数控装备性能可靠性评估方法,依据收集的多项性能参数退化数据,利用最小二乘法拟合性能参数分布类型,并判断其拟合程度;然后采用多元支持向量回归机训练得到以时间和性能参数分布的统计特征为输入和输出的最优非线性回归函数,即性能参数分布的统计特征随时间变化的函数,进而性能参数的概率密度函数,从而得到数控装备的可靠度。本发明能够在小样本条件下准确地评估与预测数控装备的性能可靠性,获知数控装备在某一时刻下完成规定功能的概率,评估每项性能参数对数控装备可靠性的影响,提高了可靠性评估的准确性和高效性。
申请公布号 CN102411339A 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN201110391524.4 申请日期 2011.11.30
申请人 华中科技大学 发明人 邓超;邵新宇;吴军;熊尧;王远航
分类号 G05B19/406(2006.01)I 主分类号 G05B19/406(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 李佑宏
主权项 一种数控装备性能可靠性评估方法,具体包括如下步骤:(1)采集数控装备各性能参数的退化数据,对任一性能参数y,获得其在任意ti时刻的观测数据样本Yi=(yi1,yi2,…,yim),其中i=1,2,…,n,n为测量的次数,m为样本量,从而得到m条性能参数退化轨迹曲线;(2)根据所述观测数据样本Yi,利用最小二乘法求出不同时刻ti下分布类型的参数Zi=(βi,θi),其中性能参数的分布类型为weibull分布,βi为weibull分布的形状参数,θi为weibull分布的尺度参数;(3)拟合时间ti与参数Zi=(βi,θi)的关系函数Z(t)=(β(t),θ(t));(4)由所述关系函数Z(t)=(β(t),θ(t))计算在时刻ti时,所述性能参数y的概率密度函数g(y,ti)和可靠度函数R(y,ti),即能够评估不同时刻的产品性能可靠性。
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