发明名称 硅纳米管的制作方法
摘要 本发明涉及一种硅纳米管的制作方法,该方法包括以下步骤:在硅片上热氧化生长二氧化硅层,在二氧化硅层上依次沉积多晶硅和氮化硅;刻蚀氮化硅和多晶硅,形成顶部覆盖有氮化硅的多晶硅线;在多晶硅线一侧,以第一角度进行离子注入;去除多晶硅线上的氮化硅;在多晶硅线另一侧,以第二角度进行离子注入;在多晶硅线上热氧化生长二氧化硅膜形成硅纳米管。本发明采用氮化硅作为注入阻挡层,使得多晶硅线表面均匀掺杂,同时使得后续在多晶硅线上热氧化生长的二氧化硅膜厚度均匀,从而硅纳米管的性能提高。
申请公布号 CN102412121A 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN201110328166.2 申请日期 2011.10.25
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 景旭斌;杨斌;郭明升
分类号 H01L21/02(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 陆花
主权项 一种硅纳米管的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:在硅片上热氧化生长二氧化硅层,在二氧化硅层上依次沉积多晶硅和氮化硅;刻蚀氮化硅和多晶硅,形成顶部覆盖有氮化硅的多晶硅线;在多晶硅线一侧,以第一角度进行离子注入;去除多晶硅线上的氮化硅;在多晶硅线另一侧,以第二角度进行离子注入;在多晶硅线上热氧化生长二氧化硅膜形成硅纳米管。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号