发明名称 减少编程干扰的影响
摘要 未选定(或禁止的)非易失性存储元件在旨在编程另一非易失性存储元件的编程操作期间的非有意编程被称作“编程干扰”。提出一种用于编程及/或读取非易失性存储装置的系统,所述系统减少编程干扰的影响。在一个实施例中,在编程过程期间针对特定字线(或存储元件的其它分组)使用不同验证电平。在另一实施例中,在读取过程期间针对特定字(或存储元件的其它分组)使用不同比较电平。
申请公布号 CN101416253B 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN200780009445.4 申请日期 2007.03.22
申请人 桑迪士克股份有限公司 发明人 格里特·简·赫民克
分类号 G11C16/10(2006.01)I;G11C16/34(2006.01)I 主分类号 G11C16/10(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 刘国伟
主权项 一种编程非易失性存储器的方法,其包含:使用第一组目标电平将第一组非易失性存储元件的每一个非易失性存储元件编程到多个数据状态的一者,所述第一组非易失性存储元件连接到字线,所述字线与用于控制源极选择栅极的选择线相邻接;及使用第二组目标电平将第二组非易失性存储元件的每一个非易失性存储元件编程到所述多个数据状态的一者,所述第一组目标电平中的至少一个目标电平低于所述第二组目标电平的对应目标电平,在编程到同一数据状态时使用所述第一组目标电平的所述至少一个目标电平和所述第二组目标电平的所述对应目标电平,所述第二组非易失性存储元件连接到其他字线,所述其他字线与所述用于控制源极选择栅极的选择线不邻接,其中所述第一组目标电平和所述第二组目标电平的所述目标电平是在编程过程期间使用的比较点以决定存储器单元已何时完成编程。
地址 美国加利福尼亚州
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