| 发明名称 | 采用液晶的分析物检测 | ||
| 摘要 | 描述了使用微米级分散液晶结构域中的缺陷变化以检测或定量测试样品中分析物的装置和方法，所述分析物包括内毒素脂多糖(LPS)。使分散的液晶微结构域接触测试样品，通过检测微结构域的锚定构型变化来测定液晶微结构域中缺陷数量的任何变化。这种锚定构型变化指示测试样品中存在分析物。 | ||
| 申请公布号 | CN102414554A | 申请公布日期 | 2012.04.11 |
| 申请号 | CN201080018339.4 | 申请日期 | 2010.04.22 |
| 申请人 | 威斯康星校友研究基金会 | 发明人 | N·L·阿伯特;M-H·林;C·J·墨菲;J·K·古普塔 |
| 分类号 | G01N21/59(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/59(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 杨帆 |
| 主权项 | 一种检测测试样品中分析物的基于液晶的传感器，所述传感器包括：(a)一个或多个由界面限制的液晶微结构域，所述界面在液晶微结构域中产生一个或多个缺陷；和(b)能鉴定所述液晶微结构域的取向序的检测器。 | ||
| 地址 | 美国威斯康星州 | ||