发明名称 一种B-C-N三元薄膜的制备方法
摘要 一种B-C-N三元薄膜的射频(13.56MHz)磁控溅射制备方法,其是在金属基体表面形成了Ti、TiN、Ti-B-C-N多层过渡薄膜,以提高B-C-N薄膜与金属基体良好的结合性能;同时,选用了合适的石墨/硼复合靶以及相应的溅射工艺参数,获得了接近于BC2N化学计量比的高性能薄膜,薄膜中B-C-N的厚度约为150nm,薄膜表面的元素的原子百分含量为23.4B-52.2C-24.4N,表面的硬度约为15GPa。
申请公布号 CN102409289A 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN201110307331.6 申请日期 2011.10.11
申请人 宁波市瑞通新材料科技有限公司 发明人 戴圣英
分类号 C23C14/06(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I 主分类号 C23C14/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种B‑C‑N三元薄膜的射频(13.56MHz)磁控溅射制备方法,其特征是:首先,将金属基体材料表面抛光,并分别用丙酮、酒精和去离子水等在超声波清洗器中各清洗约10min后,用氮气吹干备用。随后,将基体材料置于真空室内的样品台上,并将Ti靶和石墨/硼复合靶分别置于不同的靶位,其中所述的石墨/硼复合靶是将环状的硼套在圆片状的石墨外,且石墨与硼的面积比在2.5∶1‑2∶1之间,石墨的纯度为99.999%、硼的纯度为99.9%,石墨/硼复合靶与基体材料距离为7‑8cm。随后将真空室内真空度抽到≤5×10‑4Pa,同时通入流量为8‑10sccm的Ar,当真空室气压为2‑4Pa时,预溅射2‑3min,预溅射的功率为50‑70W,以进一步清洗基体材料的成膜表面。随后维持Ar的流量为8‑10sccm,控制基体材料温度为40‑50℃,当真空室气压为1‑1.5Pa时,向基体材料施加100‑150V的负偏压,同时移开Ti靶的挡板,以50‑70W的功率进行溅射,溅射时间为5‑10min,以形成一层纯Ti薄膜。随后开始通入流量为0.3‑0.6sccm的N2,并维持Ar的流量为8‑10sccm、真空室气压为1‑1.5Pa、基体材料的负偏压为100‑150V、基体材料的温度为40‑50℃,继续以50‑70W的功率进行溅射,溅射时间为15‑25min,以形成一层Ti‑N二元薄膜。随后维持Ar的流量为8‑10sccm、真空室气压为1‑1.5Pa、基体材料的负偏压为100‑150V,升高基体材料的温度为250‑300℃,N2的流量为0.8‑1sccm,移开石墨/硼复合靶的挡板,Ti靶维持以50‑70W的功率进行溅射,而石墨/硼复合靶以100‑110W功率进行溅射,溅射时间为15‑25min,以形成Ti‑B‑C‑N四元薄膜。随后维持Ar的流量为8‑10sccm、真空室气压为1‑1.5Pa、基体材料的负偏压为100‑150V、基体材料的温度为250‑300℃,关闭Ti靶挡板而维持石墨/硼复合靶溅射,N2的流量升高为3.5‑4.5sccm,溅射功率升高至130‑140W,溅射时间为80‑100min,以形成B‑C‑N三元薄膜。
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