发明名称 激光修调薄膜电阻中快速精确调整焦面的方法
摘要 本发明涉及在对材料进行激光精密加工中的调焦方法,特别是一种激光修调薄膜电阻中快速精确调整焦面的方法。是通过增加一精密位移台,辅以水平仪和高度尺,进行定量调整,通过观察光刻效果,实现焦面的快速精确调整,先通过调整螺栓使光学平台上的扫描场镜距工作台的高度和焦面位置近似一致,再通过精密位移台进行两次精调,焦面的位置和角度精度即可实现。采用本方法为在薄膜调阻机上加工薄膜电阻提供了快速简便有效的高精度焦面调整手段,明显提高其产品质量。
申请公布号 CN101733561B 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN200910217808.4 申请日期 2009.11.04
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 王忠生;汤建华;吴玉斌;田兴志;王洋
分类号 B23K26/42(2006.01)I 主分类号 B23K26/42(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 赵炳仁
主权项 一种激光修调薄膜电阻中快速精确调整焦面的方法,是对设置在一光学平台(9)上的激光器(1)、第一调整反射镜(2)、第二调整反射镜(3)、扩束器(4)、X方向扫描振镜(5)、Y方向扫描振镜(6)和扫描场镜(7)所构成的光机系统进行定量调整,其特征在于,是将所述的扫描场镜(7)安置在一精密位移台(11)上,并辅以水平仪(12)和高度尺(13),根据观察光刻效果,按以下步骤实现焦面的快速精确调整:a.进行焦点粗调,调整所述光学平台(9)上的调节螺栓(10)使光学平台(9)上的扫描场镜(7)距离工作台的高度和扫描场镜(7)的焦距近似相一致;b.进行焦面偏差检测,按照50μm间隔调整精密位移台(11),每次调整时均出射激光刻蚀电阻,通过比较确定工作台(8)上的上、下、左、右四个边缘位置的最佳焦点位置,并且记录下来,然后计算上和下、左和右的焦点位置偏差,计算工作台(8)相对于焦面的角度偏差;c.初步精调,根据步骤b计算的角度偏差,通过调节螺栓(10)对光学平台(9)进行调整,同时使用水平仪(12)和高度尺(13)进行监测,准确达到调整量;d.进行二次精调,重复步骤b,把间隔改为5μm,测出偏差后重复步骤c,准确达到调整量后微调精密位移台(11),焦面的位置和角度精度即可实现。
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