基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置

摘要

本实用新型涉及一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，属于电磁测量技术领域。技术方案是包含激励线圈（2）、补偿线圈（3）、功率分析仪（21）、变频电源（20）、被测结构件（1），激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上。本实用新型的积极效果是：解决了线圈损耗和结构件损耗难以分离的问题，将补偿线圈放置在活动支架上，通过轮组件移动补偿线圈的位置，方便测量过程中补偿线圈位置调整；除被测结构件外，其它构件制作材料均为非铁磁材料，排除了试件之外铁磁材料对测量结果的影响。

主权项

一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于包含激励线圈（2）、补偿线圈（3）、功率分析仪（21）、变频电源（20）、被测结构件（1），激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上。