发明名称 |
调节金属研磨速率并改善研磨过程中产生的缺陷的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种调节金属研磨速率并改善研磨过程中产生的缺陷的方法,其中,在研磨设备上附加一导电系统,使研磨液带电;在研磨过程中,研磨液流经研磨垫和需要被研磨的晶圆,使晶圆被研磨的金属表面带有电荷,以控制被研磨的金属表面的氧化作用。本发明解决了现有研磨过程中容易形成碟形、侵蚀缺陷的问题,通过附加设置导电系统使研磨液电位改变,进而控制被研磨的金属的研磨率,达到减少研磨过程中出现的碟形、侵蚀缺陷的目的。 |
申请公布号 |
CN102407482A |
申请公布日期 |
2012.04.11 |
申请号 |
CN201110110366.0 |
申请日期 |
2011.04.29 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
张守龙;白英英;陈玉文 |
分类号 |
B24B37/02(2012.01)I;B24B37/34(2012.01)I |
主分类号 |
B24B37/02(2012.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种调节金属研磨速率并改善研磨过程中产生的缺陷的方法,其特征在于,在研磨设备上附加一导电系统,使研磨液带电;在研磨过程中,研磨液流经研磨垫和需要被研磨的晶圆,使晶圆被研磨的金属表面带有电荷,以控制被研磨的金属表面的氧化作用。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |