TESTER FOR IN-CIRCUIT SATURATED TRANSISTORS AND METHODS OF TESTING IN-CIRCUIT SATURATED TRANSISTORS,申请号USD3588697-传众专利搜索

发明名称	TESTER FOR IN-CIRCUIT SATURATED TRANSISTORS AND METHODS OF TESTING IN-CIRCUIT SATURATED TRANSISTORS
摘要
申请公布号	US3588697(A)	申请公布日期	1971.06.28
申请号	USD3588697	申请日期	1968.09.03
申请人	TELETYPE CORP.	发明人	HAROLD D. COOK
分类号	G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/22;H03K1/00	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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