发明名称 HIGH FREQUENCY TEST PROBE
摘要 <p>Die Erfindung betrifft einen Hochfrequenz-Prüfstift (8) zum lösbaren Kontaktieren eines einen Innen- sowie einen Außenkontakt aufweisenden Hochfrequenz-Kontaktpartners (30), insbesondere Hochfrequenzkontaktbuchse oder -Stecker oder eine Kontaktierungsstelle auf einer Leiterplatte, mit einer koaxial ausgebildeten, einends Kontakte (12) für den Hochfrequenz-Kontaktpartner (30) anbietenden Anordnung aus einem Außenleiter (16) sowie einem relativ dazu in axialer Richtung federnd geführten Innenleiter (14), welche anderenends (10) extern kontaktierbar sind, wobei in einem durch den Außenleiter (16) gebildeten Hohlraum (21) ein Dämpfungsglied (22) vorgesehen ist, welches zum Realisieren einer vorbestimmten Dämpfungswirkung auf ein transmittiertes und/oder reflektiertes Eingangssignal an Kontaktabschnitten (25, 27) den Innen- und Außenleiter kontaktiert.</p>
申请公布号 WO2012041578(A1) 申请公布日期 2012.04.05
申请号 WO2011EP63451 申请日期 2011.08.04
申请人 INGUN PRUEFMITTELBAU GMBH;ZAPATKA, MATTHIAS;KOENIG, KLAUS 发明人 ZAPATKA, MATTHIAS;KOENIG, KLAUS
分类号 G01R1/067 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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