摘要 |
Verfahren zur Ermittlung der Winkeländerung einer Abtasteinrichtung (2) gegenüber einer Maßverkörperung (1) einer Positionsmeßeinrichtung durch – Erfassen des zeitlichen Verlaufs der Winkellagen (W1 bis W10, D1 bis D10) der Abtasteinrichtung (2) aus zwei Positionsmesswerten (P1, P4) zweier Abtaststellen (21, 24) der Abtasteinrichtung (2) und – Ermitteln eines Maßes (DE; D2, D6, W2, W6) für den zeitlichen Verlauf daraus, wobei das Maß des zeitlichen Verlaufs der Winkeländerung • die Extremwerte (D2, D6, W2, W6) der Winkellagen (W1 bis W10, D1 bis D10) sind, die in einem Speicher (5) der Abtasteinrichtung (2) abgespeichert werder Abtasteinrichtung (2) abgespeicherten Extremwerten (D2, D6, W2, W6) gebildete Schwankungsbreite (DE) der Winkellagen (W1 bis W10, D1 bis D10) ist.
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