| 发明名称 |
中子准直器及中子散射谱仪 |
| 摘要 |
本实用新型公开了一种中子准直器及中子散射谱仪。本实用新型涉及中子散射技术领域，解决了现有技术中在提高中子透射率的同时，抗辐照老化能力差的问题。本实用新型实施例提供的方案为：一种中子准直器，包括分隔片，其特征在于，所述分隔片包括载体层和中子吸收层，所述载体层为金属箔，所述中子吸收层附着于所述载体层上。本实用新型实施例适用于中子测量仪器等。 |
| 申请公布号 |
CN202183235U |
申请公布日期 |
2012.04.04 |
| 申请号 |
CN201120252260.X |
申请日期 |
2011.07.18 |
| 申请人 |
中国原子能科学研究院 |
发明人 |
陈东风;杨浩智;王雨;吴展华;田庚方;吴立齐;李眉娟;刘晓龙;韩松柏;孙凯;王洪立;刘蕴韬 |
| 分类号 |
G21K1/02(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I |
主分类号 |
G21K1/02(2006.01)I |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
一种中子准直器，包括框架和固定在框架上的若干层分隔片，相邻的两层分隔片之间形成中子透射通道，其特征在于，所述分隔片包括载体层和中子吸收层，所述载体层为金属箔，所述中子吸收层附着于所述载体层上。 |
| 地址 |
102413 北京市275信箱65分箱 |
