发明名称 金属氧化物半导体场效晶体管布局及结构
摘要 本发明提供了一种金属氧化物半导体场效晶体管布局及结构,其中金属氧化物半导体场效晶体管布局包含一漏极区、一栅极区、一源极区及一基极区。栅极区位于漏极区的外侧并邻接漏极区。源极区具多个源极区块,位于栅极区的外侧并邻接栅极区,源极区块之中任两相邻的源极区块之间有一源极空白区域。基极区具有至少两基极部,分别位于源极空白区域,并邻接栅极区。
申请公布号 CN102403310A 申请公布日期 2012.04.04
申请号 CN201010281515.5 申请日期 2010.09.13
申请人 登丰微电子股份有限公司 发明人 余仲哲;彭国伟;李立民
分类号 H01L27/02(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 陈红
主权项 一种金属氧化物半导体场效晶体管布局,其特征在于,包含:一漏极区;一栅极区,位于该漏极区的外侧并邻接该漏极区;一源极区,具多个源极区块,位于该栅极区的外侧并邻接该栅极区,该些源极区块之中任两相邻的源极区块之间有一源极空白区域;以及一基极区,具有至少两基极部,分别位于该些源极空白区域,并邻接该栅极区。
地址 中国台湾台北县汐止市工建路366号6楼