发明名称 |
金属氧化物半导体场效晶体管布局及结构 |
摘要 |
本发明提供了一种金属氧化物半导体场效晶体管布局及结构,其中金属氧化物半导体场效晶体管布局包含一漏极区、一栅极区、一源极区及一基极区。栅极区位于漏极区的外侧并邻接漏极区。源极区具多个源极区块,位于栅极区的外侧并邻接栅极区,源极区块之中任两相邻的源极区块之间有一源极空白区域。基极区具有至少两基极部,分别位于源极空白区域,并邻接栅极区。 |
申请公布号 |
CN102403310A |
申请公布日期 |
2012.04.04 |
申请号 |
CN201010281515.5 |
申请日期 |
2010.09.13 |
申请人 |
登丰微电子股份有限公司 |
发明人 |
余仲哲;彭国伟;李立民 |
分类号 |
H01L27/02(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
陈红 |
主权项 |
一种金属氧化物半导体场效晶体管布局,其特征在于,包含:一漏极区;一栅极区,位于该漏极区的外侧并邻接该漏极区;一源极区,具多个源极区块,位于该栅极区的外侧并邻接该栅极区,该些源极区块之中任两相邻的源极区块之间有一源极空白区域;以及一基极区,具有至少两基极部,分别位于该些源极空白区域,并邻接该栅极区。 |
地址 |
中国台湾台北县汐止市工建路366号6楼 |