| 摘要 |
本发明提供一种测试装置，其具备：多个匹配检测部，分别接收从被测试记忆体的状态输出端子输出的表示各个指令的处理状态的状态信号，并且在该状态信号成为就绪状态后，与此相应而分别输出匹配信号；判定部，根据由多个匹配检测部输出的多个匹配信号的逻辑积，来判定被测试记忆体已结束多个指令的处理；以及分配部，在具有多个记忆体库的被测试记忆体的测试中，以与多个记忆体库各自对应的方式来分别分配多个匹配检测部。在具有多个记忆体库的被测试记忆体的测试中，多个匹配检测部分别将从被测试记忆体的状态输出端子，由每一各个记忆体库在不相同的周期(cycle)中输出的表示各个指令的处理状态的状态信号中接收对应的记忆体库的状态信号，并输出匹配信号。 |
