发明名称 |
制造颗粒材料、测量及减少颗粒材料中粉尘之系统与方法 |
摘要 |
本发明指出一种制造颗粒多晶矽、及供应颗粒多晶矽的方法。本发明也指出一种测量及减少在颗粒多晶矽中之粉尘的装置与方法。在另一观点中,该系统包括一种具有真空汽门(port)的制程容器,其用来从多晶矽中抽除粉尘。本发明的另一个系统包括用来接收多晶矽流动的挡板管。测量系统包括用来分离并测量来自多晶矽流的粉尘之歧管及滤器。 |
申请公布号 |
TWI361231 |
申请公布日期 |
2012.04.01 |
申请号 |
TW094120351 |
申请日期 |
2005.06.17 |
申请人 |
MEMC电子材料公司 美国 |
发明人 |
约翰D 候德;哈瑞帕萨德 史崔哈剌穆地;约翰D 亥克 |
分类号 |
C30B15/00;C30B21/06;C30B30/04 |
主分类号 |
C30B15/00 |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |