发明名称 制造颗粒材料、测量及减少颗粒材料中粉尘之系统与方法
摘要 本发明指出一种制造颗粒多晶矽、及供应颗粒多晶矽的方法。本发明也指出一种测量及减少在颗粒多晶矽中之粉尘的装置与方法。在另一观点中,该系统包括一种具有真空汽门(port)的制程容器,其用来从多晶矽中抽除粉尘。本发明的另一个系统包括用来接收多晶矽流动的挡板管。测量系统包括用来分离并测量来自多晶矽流的粉尘之歧管及滤器。
申请公布号 TWI361231 申请公布日期 2012.04.01
申请号 TW094120351 申请日期 2005.06.17
申请人 MEMC电子材料公司 美国 发明人 约翰D 候德;哈瑞帕萨德 史崔哈剌穆地;约翰D 亥克
分类号 C30B15/00;C30B21/06;C30B30/04 主分类号 C30B15/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国