发明名称 |
HALBLEITERSTRUKTUR UND VERFAHREN ZU DEREN HERSTELLUNG |
摘要 |
Eine oder mehrere Ausführungsformen betreffen ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleiterstruktur, das Folgendes umfasst: Bereitstellen eines Werkstücks (210); Ausbilden einer Barrierenschicht (220) über dem Werkstück (210); Ausbilden einer Trennschicht (230) über der Barrierenschicht (220); Ausbilden einer leitenden Schicht (240) über der Trennschicht (230) und Nassätzen der leitenden Schicht (240). |
申请公布号 |
DE102011053259(A1) |
申请公布日期 |
2012.03.29 |
申请号 |
DE20111053259 |
申请日期 |
2011.09.05 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
FISCHER, THOMAS;FOERSTER, JUERGEN;ROBL, WERNER;STUECKJUERGEN, ANDREAS |
分类号 |
H01L21/283;H01L21/768 |
主分类号 |
H01L21/283 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|