发明名称 Verfahren zur Bestimmung einer Strahlungsschwächung eines Untersuchungsobjekts in einem Positronenmissionstomographen
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Strahlungsschwächung eines Untersuchungsobjekts (6) in einem Positronenemissionstomographen (2). Bei dem Verfahren wird eine anfängliche Segmentierung des Untersuchungsobjekts (6) festgelegt, wobei jedem Segment (40) der Segmentierung ein Schwächungskoeffizient (μ) zugeordnet ist. Weiterhin werden Strahlungsrohdaten des in dem Positronenemissionstomographen (2) angeordneten Untersuchungsobjekts (6) erfasst und automatisch ein Korrekturfaktor für jeden Bildpunkt mithilfe eines Optimierungsverfahrens bestimmt, bei welchem eine Maximierung der Wahrscheinlichkeit der erfassten Strahlungsrohdaten unter Berücksichtigung der Segmentierung und der den Segmenten (40) zugeordneten Schwächungskoeffizienten durchgeführt wird. Dann wird für jedes Segment (40) ein statistischer Parameter der Korrekturfaktoren bestimmt und die Segmentierung durch Teilen eines Segments (40) in Abhängigkeit von dem für das Segment (40) bestimmten statistischen Parameter korrigiert. Schließlich wird für jedes Segment (40) aus den dem Segment (40) zugeordneten Korrekturfaktoren ein Segmentkorrekturfaktor bestimmt und die den Segmenten (40) zugeordneten Schwächungskoeffizienten in Abhängigkeit von den Segmentkorrekturfaktoren korrigiert.</p>
申请公布号 DE102010023847(A1) 申请公布日期 2012.03.29
申请号 DE20101023847 申请日期 2010.06.15
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 FENCHEL, MATTHIAS
分类号 A61B6/03;A61B5/055;A61B19/00;G01N23/04 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
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