一种共阴、共阳封装二极管对的测试方法

摘要

一种共阴、共阳封装二极管对的测试方法，属于电子产品领域，方案是：分别测试两臂两个二极管各自的击穿电压、反向漏电流和正向导通电压，并且比较每组数据的差别，差别范围设定为±5%；测试和比较两臂两个二极管的瞬态热阻：通电时间为0.38~2ms的冷态导通电压值（Vonl）与通电时间为10~100ms的热态导通电压值（Vonr）的差值；每个二极管各自的冷热态导通电压之差不大于100-300mV，两臂两个二极管的这个差值之差不能大于15-30mV；满足上述条件的为良品。本发明的方法更贴近实践使用，得到的结果能可靠反映产品实践性能，通过测试的产品质量等级高，使用寿命更长。

主权项

一种共阴、共阳封装二极管对的测试方法，分别测试两臂两个二极管各自的击穿电压、反向漏电流和正向导通电压，并且比较每组数据的差别，差别范围设定为±5%；测试和比较两臂两个二极管的瞬态热阻：通电时间为0.38~2ms的冷态导通电压值（Vonl）与通电时间为10~100ms的热态导通电压值（Vonr）的差值；每个二极管各自的冷热态导通电压之差不大于100‑300mV，两臂两个二极管的这个差值之差不能大于15‑30 mV；满足上述条件的为良品。