发明名称 太赫兹波长仪
摘要 本实用新型公开了一种太赫兹波长仪,包括外壳(1)和位于该外壳(1)内依次布置的斩波器(2)、F-P标准具(3)、聚焦透镜(4)和热释电探测器(5),其中,该斩波器(2)、F-P标准具(3)和聚焦透镜(4)构成光路部分,该热释电探测器(5)与外部的示波器相连,该外壳(1)上设置有通光孔(9),太赫兹光通过所述通光孔(9)入射到斩波器(2),并经该光路部分后汇聚到热释电探测器(5)的探头上,经该热释电探测器(5)转换为正弦电信号输出到示波器上,调节所述F-P标准具(3)的位置获得示波器上波形图的变化,从而测出入射的太赫兹光的波长。本实用新型结构简单,操作方便,能够准确测量出太赫兹光的波长。
申请公布号 CN202177460U 申请公布日期 2012.03.28
申请号 CN201120251130.4 申请日期 2011.07.14
申请人 华中科技大学 发明人 康胜武;刘侃;汪继平;张新宇;张天序
分类号 G01J9/00(2006.01)I 主分类号 G01J9/00(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 李佑宏
主权项 一种太赫兹波长仪,包括外壳(1)和位于该外壳(1)内依次布置的斩波器(2)、F‑P标准具(3)、聚焦透镜(4)和热释电探测器(5),该斩波器(2)、F‑P标准具(3)和聚焦透镜(4)构成光路部分,该热释电探测器(5)与外部的示波器相连,该外壳(1)上设置有通光孔(9),太赫兹光通过所述通光孔(9)入射到斩波器(2),经所述光路部分后汇聚到热释电探测器(5)的探头上,该热释电探测器(5)将光信号转换为正弦电信号输出到示波器上,通过调节所述F‑P标准具(3)的位置获得示波器上波形图的变化,即测出入射的太赫兹光的波长。
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