发明名称 | 在半导体上进行光引发的镀覆的方法 | ||
摘要 | 揭示了一种在半导体上进行光引发镀镍的方法。所述方法包括以初始光强度施加有限时间量的光照,然后在镀覆周期的剩余时间内减小光强度,从而在半导体上沉积镍。 | ||
申请公布号 | CN101630703B | 申请公布日期 | 2012.03.28 |
申请号 | CN200910159463.1 | 申请日期 | 2009.07.02 |
申请人 | 罗门哈斯电子材料有限公司 | 发明人 | G·哈姆;D·L·雅克斯 |
分类号 | H01L31/18(2006.01)I | 主分类号 | H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 朱黎明;周承泽 |
主权项 | 一种在半导体上进行光引发的镀覆方法,其包括:a)提供掺杂的半导体,该半导体包括正面和背面,所述正面是n掺杂的,包括减反射层,所述减反射层具有图案化的开口,使得减反射层下方的半导体的n掺杂的正面的一部分裸露出来,背面包括金属涂层;b)使得所述掺杂的半导体与镀镍组合物接触;以及c)以初始光强度对掺杂的半导体施加光照预定的时间量,然后在镀覆周期的剩余时间将初始光强度减小到预定的量,从而在掺杂的半导体的n掺杂的正面的裸露部分上沉积镍层。 | ||
地址 | 美国马萨诸塞州 |