发明名称 在半导体上进行光引发的镀覆的方法
摘要 揭示了一种在半导体上进行光引发镀镍的方法。所述方法包括以初始光强度施加有限时间量的光照,然后在镀覆周期的剩余时间内减小光强度,从而在半导体上沉积镍。
申请公布号 CN101630703B 申请公布日期 2012.03.28
申请号 CN200910159463.1 申请日期 2009.07.02
申请人 罗门哈斯电子材料有限公司 发明人 G·哈姆;D·L·雅克斯
分类号 H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 朱黎明;周承泽
主权项 一种在半导体上进行光引发的镀覆方法,其包括:a)提供掺杂的半导体,该半导体包括正面和背面,所述正面是n掺杂的,包括减反射层,所述减反射层具有图案化的开口,使得减反射层下方的半导体的n掺杂的正面的一部分裸露出来,背面包括金属涂层;b)使得所述掺杂的半导体与镀镍组合物接触;以及c)以初始光强度对掺杂的半导体施加光照预定的时间量,然后在镀覆周期的剩余时间将初始光强度减小到预定的量,从而在掺杂的半导体的n掺杂的正面的裸露部分上沉积镍层。
地址 美国马萨诸塞州