发明名称 反钻验证部件
摘要 在电路板的层上提供反钻验证部件。在执行反钻操作之前,在通孔中的传导材料和反钻验证部件之间存在电连接。在反钻操作之后,该电连接被切断。
申请公布号 CN102396299A 申请公布日期 2012.03.28
申请号 CN200980158681.1 申请日期 2009.04.13
申请人 惠普开发有限公司 发明人 J. P.米勒
分类号 H05K3/40(2006.01)I;B23B41/00(2006.01)I 主分类号 H05K3/40(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 张晓冬;王洪斌
主权项 一种电路板(14),其包括:存在于所述电路板(14)的第一内层上的第一信号迹线(50,66,78,94,116);穿过所述电路板(14)钻出的并且与所述第一信号迹线(50,66,78,94,116)相交的通孔(52,70,80,98,112);在所述通孔(52,70,80,98,112)中并且与所述第一信号迹线(50,66,78,94,116)电接触的传导材料(54,72,82,100,114);和所述电路板(14)的第一层上的第一反钻验证部件(56,74,84,102,120),其中所述第一内层和所述第一层是不同的层,在第一反钻操作之前所述第一反钻验证部件(56,74,84,102,120)和所述传导材料(54,72,82,100,114)之间存在第一电连接,并且所述第一反钻操作切断了所述第一电连接。
地址 美国德克萨斯州