发明名称 |
反钻验证部件 |
摘要 |
在电路板的层上提供反钻验证部件。在执行反钻操作之前,在通孔中的传导材料和反钻验证部件之间存在电连接。在反钻操作之后,该电连接被切断。 |
申请公布号 |
CN102396299A |
申请公布日期 |
2012.03.28 |
申请号 |
CN200980158681.1 |
申请日期 |
2009.04.13 |
申请人 |
惠普开发有限公司 |
发明人 |
J. P.米勒 |
分类号 |
H05K3/40(2006.01)I;B23B41/00(2006.01)I |
主分类号 |
H05K3/40(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
张晓冬;王洪斌 |
主权项 |
一种电路板(14),其包括:存在于所述电路板(14)的第一内层上的第一信号迹线(50,66,78,94,116);穿过所述电路板(14)钻出的并且与所述第一信号迹线(50,66,78,94,116)相交的通孔(52,70,80,98,112);在所述通孔(52,70,80,98,112)中并且与所述第一信号迹线(50,66,78,94,116)电接触的传导材料(54,72,82,100,114);和所述电路板(14)的第一层上的第一反钻验证部件(56,74,84,102,120),其中所述第一内层和所述第一层是不同的层,在第一反钻操作之前所述第一反钻验证部件(56,74,84,102,120)和所述传导材料(54,72,82,100,114)之间存在第一电连接,并且所述第一反钻操作切断了所述第一电连接。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |