发明名称 重构非均匀介质中缺陷形状的方法
摘要 本发明涉及无损检测领域,具体涉及一种重构非均匀介质中的缺陷形状的方法,具体包括以下步骤:首先利用超声波检测系统检测非均匀介质,获得非均匀介质中的缺陷回波幅值,在计算机中利用工程计算软件对公式(1)和(2)进行程序编写,然后输入相应的缺陷回波的幅值即可实现非均匀介质的缺陷形状的重构;<img file="dest_path_dsb00000156123400011.GIF" wi="1683" he="122" /><img file="dest_path_dsb00000156123400012.GIF" wi="1687" he="126" />其中公式(1)和(2)是根据均匀的各向同性介质中的三维Born近似公式和三维Kirchhoff近似公式中分别引入相速度式而导出的,所以本发明的重构非均匀介质中缺陷形状的方法简单方便,能快速、准确、低成本的重构出非均匀介质中三维缺陷的形状。
申请公布号 CN101819182B 申请公布日期 2012.03.28
申请号 CN201010131246.4 申请日期 2010.03.18
申请人 安徽理工大学 发明人 郑钢丰;郑礼全;邱轶兵;李玲
分类号 G01N29/04(2006.01)I;G01B17/06(2006.01)I 主分类号 G01N29/04(2006.01)I
代理机构 合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109 代理人 汤茂盛
主权项 1.一种重构非均匀介质中的缺陷形状的方法,包括以下步骤:首先利用超声波检测系统检测非均匀介质,获得非均匀介质中的缺陷回波幅值,在计算机中利用工程计算软件对公式(1)和(2)进行程序编写,然后输入相应的缺陷回波的幅值即可实现非均匀介质的缺陷形状的重构,<img file="FSB00000616058400011.GIF" wi="1904" he="183" /><img file="FSB00000616058400012.GIF" wi="1901" he="179" />其中x是特征函数Γ(x)和γ<sub>H</sub>(x)的参数,<img file="FSB00000616058400013.GIF" wi="59" he="64" />是单位矢量<img file="FSB00000616058400014.GIF" wi="29" he="56" />指向y<sub>m</sub>方向的分量,<img file="FSB00000616058400015.GIF" wi="183" he="90" />表示缺陷散射场纵波的散射幅值,k<sub>L</sub>表示纵波波数,f表示频率,<img file="FSB00000616058400016.GIF" wi="187" he="87" />是单位矢量指向y方向,<img file="FSB00000616058400017.GIF" wi="101" he="70" />表示单位球上的积分,C<sub>L</sub>(f)就是非均匀介质中的相速度;u<sup>0</sup>表示入射平面纵波振幅。
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