发明名称 Dichtringstruktur mit Metallpad
摘要 Ein Verfahren enthält: Bereitstellen eines Substrats mit einem Dichtringbereich und einem Schaltkreisbereich; Ausbilden einer Dichtringstruktur über dem Dichtringbereich; Ausbilden einer ersten vorderseitigen Passivierungsschicht über der Dichtringstruktur; Ätzen einer vorderseitigen Öffnung in der ersten vorderseitigen Passivierungsschicht benachbart zu einem äußeren Bereich der Dichtringstruktur; Ausbilden eines vorderseitigen Metallpads in der vorderseitigen Öffnung, um das vorderseitige Metallpad mit dem äußeren Bereich der Dichtringstruktur zu koppeln; Ausbilden einer ersten rückseitigen Passivierungsschicht unter der Dichtringstruktur; Ätzen einer rückseitigen Öffnung in die erste rückseitige Passivierungsschicht benachbart zum äußeren Bereich der Dichtringstruktur; und Ausbilden eines rückseitigen Metallpads in der rückseitigen Öffnung, um das rückseitige Metallpad mit dem äußeren Bereich der Dichtringstruktur zu koppeln. Außerdem werden Halbleitervorrichtungen angegeben, die durch solch ein Verfahren hergestellt werden.
申请公布号 DE102011004238(A1) 申请公布日期 2012.03.22
申请号 DE20111004238 申请日期 2011.02.16
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 LIN, JENG-SHYAN;YAUNG, DUN-NIAN;LIU, JEN-CHENG;LEE, HSIN-HUI;WANG, WEN-DE;TSAI, SHU-TING
分类号 H01L21/56;H01L21/301;H01L21/822;H01L23/10;H01L23/29;H01L23/31;H01L23/485;H01L23/544 主分类号 H01L21/56
代理机构 代理人
主权项
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