发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A SYSTEM-ON-CHIP INVOLVING PARALLEL AND SERIAL ACCESSES
摘要
申请公布号 KR101121306(B1) 申请公布日期 2012.03.22
申请号 KR20107012435 申请日期 2008.11.24
申请人 发明人
分类号 G06F11/26 主分类号 G06F11/26
代理机构 代理人
主权项
地址