发明名称 按键自动测试系统与方法
摘要 一种按键自动测试系统及其方法,适于测试通用序列汇流排装置上的多个按键,此系统包括脉波设定模组、可程式脉波产生器、封包记录器及封包读取模组。其中,脉波设定模组系用以设定测试各个按键的脉波数目及脉波周期。可程式脉波产生器系连接至脉波设定模组,用以根据各个按键测试之脉波数目及脉波周期产生对应之模拟脉波,并将模拟脉波输入至所述通用序列汇流排装置以测试按键。封包记录器系用以接收并记录按键测试后所产生的测试封包。封包读取模组系连接封包记录器,用以读取测试封包以判定按键的功能是否正常。
申请公布号 TWI360743 申请公布日期 2012.03.21
申请号 TW096142075 申请日期 2007.11.07
申请人 金宝电子工业股份有限公司 新北市深坑区北深路3段147号 发明人 林国弘
分类号 G06F11/273;G06F3/023 主分类号 G06F11/273
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;叶璟宗 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 新北市深坑区北深路3段147号