发明名称 半导体装置的制造方法
摘要 本发明之课题在于提供一种可缩小薄膜电阻的变动之雷射退火方法。;本发明之解决手段为:在比半导体材料所构成之基板的深度100nm更浅的表层部,添加杂质。将从雷射二极体激发型全固体雷射振荡器射出的雷射光或高谐波光束,照射在上述基板上,且令上述杂质活性化。
申请公布号 TWI360882 申请公布日期 2012.03.21
申请号 TW093115860 申请日期 2004.06.02
申请人 住友重机械工业股份有限公司 日本;松下电器产业股份有限公司 日本 发明人 工藤利雄;水野文二;佐佐木雄一朗;金成国
分类号 H01L29/78 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本