发明名称 |
嵌入式设备的加解密方法和系统 |
摘要 |
本发明公开了一种嵌入式设备的加解密方法和系统。所述方法包括以下步骤:加密时,统计嵌入式设备中存储介质中的坏块,生成坏块信息,将所述坏块信息保存到指定位置;解密时,从所述指定位置获取坏块信息,验证存储介质上的实际坏块是否匹配所述坏块信息;如果匹配,则解密成功,否则,解密失败。使用本发明能够借助存储介质本身特有的,且不易复制的信息进行加密,以提高嵌入式设备的防护力度。 |
申请公布号 |
CN101609492B |
申请公布日期 |
2012.03.21 |
申请号 |
CN200910151481.5 |
申请日期 |
2009.07.23 |
申请人 |
凌阳科技股份有限公司;北京北阳电子技术有限公司 |
发明人 |
陈立勤 |
分类号 |
G06F21/00(2006.01)I;G06F9/445(2006.01)I |
主分类号 |
G06F21/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京德琦知识产权代理有限公司 11018 |
代理人 |
王一斌;王琦 |
主权项 |
一种嵌入式设备的加解密方法,其特征在于,该方法包括:A、加密时,统计嵌入式设备中存储介质中的坏块,生成坏块信息;将所述坏块信息保存到指定位置;其中,所述统计嵌入式设备中存储介质中的坏块,生成坏块信息为:读取存储介质中所有坏块的地址,生成包含各坏块地址的坏块信息;或,获取存储介质中所有坏块的数量X,生成包含所有坏块的数量的坏块信息;或,选定n个包含坏块的地址空间,n为正整数,读取每个选定的地址空间中坏块的地址,生成包含各地址空间的位置和坏块地址的坏块信息;或,选定n个包含坏块的地址空间,n为正整数,针对每个选定的地址空间统计坏块个数,记为统计个数,生成包含各地址空间的位置和统计个数的坏块信息;或,选定n个包含坏块的地址空间,生成包含地址空间位置的坏块信息;B、解密时,从所述指定位置获取坏块信息,验证存储介质上的实际坏块是否匹配所述坏块信息;如果匹配,则解密成功,否则,解密失败;其中,所述验证存储介质上的实际坏块是否匹配所述坏块信息为:判断坏块信息中各坏块地址指示的区块是否均为实际坏块,如果是,则判定为匹配,否则,只要有一个坏块地址指示的区块不是坏块,则判定为不匹配;或,判断存储介质中实际坏块的数量是否大于或等于X,如果是,则判定为匹配,否则,判定为不匹配;或,针对每个选定的地址空间i,判断所述坏块信息中该地址空间i对应的各坏块地址指示的区块是否均为实际坏块,如果是,则确定该地址空间i满足匹配条件,只有所有地址空间满足匹配条件才判定为匹配,否则,判定为不匹配;或,判断是否所有选定的地址空间中实际坏块的数量都大于自身对应的统计个数;如果是,则判定为匹配,否则,判定为不匹配;或,判断是否所有选定的地址空间中都存在坏块;如果是,则判定为匹配,否则判定为不匹配。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区创新一路19号 |