发明名称 |
透镜阴影校正方法和装置 |
摘要 |
一种透镜阴影校正方法和装置,其中,所述透镜阴影校正方法包括:在参考场景下,获得期望点;根据每个像素点的亮度值以及到所述期望点的距离平方,获得像素点补偿到期望亮度所需要的校正系数与其到所述期望点距离平方的对应关系;根据所述校正系数与距离平方的对应关系,获得设定段数的连续步进校正段,及对应的步进参数和步进校正系数;在实际场景下,获得每个实际像素点到所述期望点的距离平方;根据所述距离平方,确定每个实际像素点的步进校正段,并计算每个实际像素点所对应的校正系数;根据所述校正系数,对图像的实际像素进行阴影校正。本发明有效地减小了芯片的消耗和运算量,使得能够以较小的硬件代价获得较好的亮度补偿效果。 |
申请公布号 |
CN101510962B |
申请公布日期 |
2012.03.21 |
申请号 |
CN200810187732.0 |
申请日期 |
2008.12.31 |
申请人 |
昆山锐芯微电子有限公司 |
发明人 |
张冬;黄碧珍;曹庆红 |
分类号 |
H04N5/30(2006.01)I |
主分类号 |
H04N5/30(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
李丽 |
主权项 |
一种透镜阴影校正方法,其特征在于,包括:在参考场景下,获得期望点,所述期望点为透镜光心在像素阵列对应的位置,所述参考场景为均匀照度场景;在参考场景下,根据每个像素点的亮度值以及到所述期望点的距离平方,获得像素点补偿到期望亮度所需要的校正系数与其到所述期望点的距离平方的对应关系;根据所述校正系数与所述距离平方的对应关系,获得设定段数的连续的步进校正段,以及与每段步进校正段对应的步进参数和步进校正系数;在实际场景下,获得每个实际像素点到所述期望点的距离平方;根据所述距离平方,确定每个实际像素点所处的步进校正段,并根据所述步进校正段的步进参数和步进校正系数,计算每个实际像素点所对应的校正系数;根据所述校正系数,对图像的实际像素进行阴影校正。 |
地址 |
215300 江苏省昆山市开发区伟业路18号现代广场A座508-511室 |