| 发明名称 | 测量超声穿透深度的方法及系统 | ||
| 摘要 | 一种测量超声穿透深度的方法，其特征在于，包括以下步骤：设置层厚，对物体进行分层；在超声作用下，对物体的每一层进行磁共振温度成像，得到每一层的温度变化情况；根据所述每一层的温度变化情况得到超声穿透的层数；根据所述超声穿透的层数及所述层厚得到超声穿透深度。上述测量超声穿透深度的方法及系统中，通过磁共振温度成像来确定被超声作用时物体的温度变化情况，并根据温度变化情况得到超声穿透深度，结果精确可靠。此外，还提供了一种测量超声穿透深度的系统。 | ||
| 申请公布号 | CN102379698A | 申请公布日期 | 2012.03.21 |
| 申请号 | CN201110236248.4 | 申请日期 | 2011.08.17 |
| 申请人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明人 | 刘新;沈欢;邹超;郑海荣;梅玲 |
| 分类号 | A61B5/055(2006.01)I;A61B5/01(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/055(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 吴平 |
| 主权项 | 一种测量超声穿透深度的方法，其特征在于，包括以下步骤：设置层厚，对物体进行分层；在超声作用下，对物体的每一层进行磁共振温度成像，得到每一层的温度变化情况；根据所述每一层的温度变化情况得到超声穿透的层数；根据所述超声穿透的层数及所述层厚得到超声穿透深度。 | ||
| 地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 | ||