| 发明名称 | 距离测定方法以及距离测定装置 | ||
| 摘要 | 一种距离测定方法，对测定对象物照射测距光并接收反射光以进行距离测定，其中，具有如下步骤：扫描照射测距光，该测距光具有至少一种有规定扩展角的光束；在所述光束横穿测定对象物的期间进行至少两次脉冲发光；至少两次接收反射光以进行测距；以及使测距结果平均化。 | ||
| 申请公布号 | CN1987518B | 申请公布日期 | 2012.03.21 |
| 申请号 | CN200610169060.1 | 申请日期 | 2006.12.20 |
| 申请人 | 株式会社拓普康 | 发明人 | 大友文夫;大石政裕;石锅郁夫;志田一博 |
| 分类号 | G01C15/00(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I;G01S17/10(2006.01)I;G02B26/00(2006.01)I | 主分类号 | G01C15/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 浦柏明;刘宗杰 |
| 主权项 | 一种距离测定方法，对测定对象物照射测距光并接收反射光以进行距离测定，其中，该距离测定方法具有如下步骤：扫描照射具有至少一种有规定扩展角的光束的测距光的步骤；在所述测距光横穿测定对象物的期间进行至少两次脉冲发光的步骤；在所述测距光横穿一次测定对象物的期间至少两次接收反射光以进行测距的步骤；以及使测距结果平均化的步骤，所述测距光具有散斑图，所述脉冲发光的发光频率为f，扫描速度的旋转角速度为Ω，以至少两次接收来自测定对象物的反射光的方式，设定所述发光频率f、所述旋转角速度Ω。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||