发明名称 ZnO/纳米晶金刚石薄膜异质结光电探测器的制备方法
摘要 本发明涉及一种基于ZnO/纳米晶金刚石薄膜异质结光电探测器的制备方法,属于无机非金属材料器件制造工艺领域。本发明主要特点在于采用高导电率的氢终端纳米金刚石薄膜作为p型层,并在此层上制备高质量的n型ZnO薄膜,从而得到ZnO/纳米晶金刚石异质结光电探测器件。本发明所得器件对350nm的紫外光具有明显的光电响应。相对于一般的ZnO/金刚石探测器,具有更好的pn结光电响应特性。
申请公布号 CN102386281A 申请公布日期 2012.03.21
申请号 CN201110359607.5 申请日期 2011.11.15
申请人 上海大学 发明人 王林军;潘潇雨;曾庆锴;庄晓凤;刘晟;黄健;唐可;夏义本
分类号 H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0296(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人 顾勇华
主权项 一种ZnO/纳米晶金刚石薄膜异质结光电探测器的制备方法,其特征在于具有以下制备过程和步骤:一、硅衬底上氢终端纳米晶金刚石薄膜的制备(1)纳米晶金刚石薄膜制备过程:采用(100)镜面抛光硅片作为沉积衬底;采用氢氟酸(HF)超声清洗5 15分钟,以去除表面的氧化硅层;为了增加金刚石薄膜的成核密度,使用100nm粒径的金刚石粉末对硅衬底机械研磨10 15分钟;将研磨后的硅片放在混有100nm金刚石粉的丙酮溶液中超声清洗10 20分钟;最后再将硅片用去离子水和丙酮分别超声清洗,直至硅片表面洁净,烘干后放入热丝辅助化学化学气相沉积(HFCVD)装置的反应室内;用真空泵对HFCVD反应室抽真空至5 7Pa,通入丙酮、氢气的混合反应气体,调节丙酮、氢气的流量分别为40 50标准毫升/分、160 180标准毫升/分;反应室的气压设定为0.8 1.5kPa,衬底温度控制在650 750℃,热丝电压设定10 14V,在热丝与衬底间加载负偏压,偏压电流2 3A,薄膜生长时间3 4小时;在硅衬底上制得纳米金刚石薄膜;(2)氢处理:将上述制备的纳米晶金刚石薄膜放入微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)装置的反应室内,用真空泵对MPCVD反应室抽真空至5 7Pa,然后用分子泵对反应室抽真空至10 2Pa以下,通入氢气,调节氢气的流量为100 160标准毫升/分;反应室的气压设定为2 3kPa,衬底温度控制在350 450℃,微波功率设定为1800 2400W,表面处理时间0.5 1小时;最终在硅衬底上制得氢终端纳米金刚石薄膜;二、掺铝 ZnO薄膜的制备:采用射频反应磁控溅射法在p型纳米晶金刚石薄膜上制备掺铝ZnO薄膜;靶材为掺铝的高纯ZnO陶瓷靶;沉积过程中,工作气体是Ar气;Ar流量为7 10标准毫升/分,工作气压0.2 0.7Pa;溅射功率100 250W;三、电极制备:采用Ti/Au双层电极结构;分别在p型纳米晶金刚石薄膜和n型掺铝氧化锌薄膜上沉积Ti/Au双层电极;采用高纯度金属Ti(99.99%)靶,使用直流磁控溅射方法溅射金属Ti,系统的本底真空2×10 4 5×10 4Pa;通入Ar气, 调节流量为10 15标准毫升/分;气压在0.3 0.8Pa;溅射功率为100 200W;溅射时间为12 15分钟;Au采用离子溅射方法,采用Au靶,在Ti层上制备金属膜Au;溅射过程中,工作气压为0.75 0.85Pa,离子流1.8 2mA,溅射时间为12 15分钟;采用快速退火工艺,进行电极退火;退火温度为350 450℃,时间为10 20分钟;最终制得ZnO/纳米金刚石薄膜异质结光电探测器元件。
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