发明名称 Method of selecting a grid model for correcting grid deformations in a lithographic apparatus and lithographic assembly using the same
摘要
申请公布号 EP1744217(B1) 申请公布日期 2012.03.14
申请号 EP20060116659 申请日期 2006.07.05
申请人 ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 SIMONS, HUBERTUS JOHANNES GERTRUDUS;MEGENS, HENRICUS JOHANNES LAMBERTUS;MOS, EVERHARDUS CORNELIS;VERSTAPPEN, LEONARDUS HENRICUS MARIE;WERKMAN, ROY;VERHOEVEN, HENRICUS JACOBUS MARIA
分类号 G03F7/20;G03F9/00 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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