发明名称 |
一种三维荧光纳米显微成像方法、系统及成像设备 |
摘要 |
本发明适用于显微成像领域,提供了一种三维荧光纳米显微成像方法、系统及成像设备,所述方法包括下述步骤:产生激发光;将所述激发光转换为片状激发光束;将所述片状激发光束作用于样品;探测被作用样品层内荧光标记物发射的荧光;横向定位,获取荧光标记物的二维位置;轴向定位,获取荧光标记物的轴向位置;三维重构,结合所述的二维位置和轴向位置获取被作用样品层的三维纳米分辨图像;轴向扫描,获取不同样品层的三维纳米分辨图像;获得完整样品的三维纳米分辨图像。本发明以片状光束作为激发光,结合轴向扫描,实现了高精度的三维纳米显微成像,适用于生物领域细胞等厚样品的三维显微成像,解决了厚样品内分子定位精度低,样品观测难的问题。 |
申请公布号 |
CN101963582B |
申请公布日期 |
2012.03.14 |
申请号 |
CN201010279732.0 |
申请日期 |
2010.09.13 |
申请人 |
深圳大学 |
发明人 |
于斌;陈丹妮;屈军乐;牛憨笨 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 44237 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
一种三维荧光纳米显微成像方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:产生激发光;将所述激发光转换为片状激发光束;将所述片状激发光束作用于样品;探测被作用样品层内荧光标记物发射的荧光;横向定位,获取荧光标记物的二维位置;轴向定位,获取荧光标记物的轴向位置;三维重构,结合所述的二维位置和轴向位置获取被作用样品层的三维纳米分辨图像;轴向扫描,获取不同样品层的三维纳米分辨图像;获得完整样品的三维纳米分辨图像;其中,将所述激发光转换为片状激发光束的步骤具体为:对所述激发光进行准直扩束;将所述准直扩束后的激发光转换成片状光束;扩展所述片状光束的焦深;进一步减小所述片状光束的厚度。 |
地址 |
518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号 |